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晶振失效模式:了解问题根源以提高电子设备性能
深入了解晶振失效模式,帮助你探究问题的根源,从而提高电子设备性能。通过本文,您将了解晶振失效的主要原因以及采取的有效措施。
2021-06-03 晶振厂家星光鸿创XGHC
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电磁干扰对晶振性能的影响及解决方案
本文将详细介绍电磁干扰对晶振性能的影响原因及解决方案,帮助工程师和设计者了解如何保护晶振免受电磁干扰的影响,确保其稳定性能。
2021-06-02 晶振厂家星光鸿创XGHC
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详解晶振负载电容测试:原理、方法与实际操作
本文详细介绍了负载电容测试的原理、方法及实际操作步骤,帮助硬件工程师更好地理解负载电容对晶振性能的影响以及如何进行负载电容测试。
2021-05-27 晶振厂家星光鸿创XGHC
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测量与优化晶振起振时间的关键步骤
本文详细介绍了晶振起振时间测试的原理及方法,通过实际案例展示如何优化起振时间,提高晶振性能。了解起振时间测试的关键步骤,助力硬件工程师优化电路设计。
2021-05-25 晶振厂家星光鸿创XGHC